日本日置元器件测试仪器
日本日置电机株式会社(HIOKI)生产的元器件测试仪器主要是应用在微电阻测量、电池性能检测、电阻、电容、电感的高频测试,现将主要几个型号的性能分别介绍如下:
微电阻计 3540-01/3540-02/3540-03
- 提供可选手动测试或系统应用测试
- 4端子方法测量mΩ电阻(快速100ms响应)
- 比较器功能最多存储7组表格
- 温度补偿功能,测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。
- 3540是没有外部控制接口的低价格版本,用于手动测试。 3540-01加入了BCD输出和外部控制,3540-02包含了打印机接口,3540-03包含了RS-232C接口。
- 测量量程和精确度 30mΩ~30kΩ,7档量程,最大显示值3500
± 0.1%rdg. ± 6dgt.(30mΩ,3Ω量程)
± 0.1%rdg. ± 4dgt.(300mΩ,30Ω~30kΩ量程) - 测量电流 100mA(30mΩ,300mΩ量程) ~10μA(3kΩ,30kΩ量程)
- 最大应用测量电压 直流3.5mV(30mΩ量程)~直流350mV(30kΩ量程)
- 采样速度 16次/s(快速模式),4次/s(慢速模式)响应时间 100ms(快速模式),300ms(慢速模式)
微电阻计 3541
- 宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计
- 广范围测量 最低0.1μΩ(20.00mΩ),最高110MΩ
- 快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)
- 补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能
- 运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计
- 具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可达到印字功能。
- 测量电流 20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,最小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, 最小分辨率: 10μΩ
- 显示 20m~20kΩ时,最大显示值200000, 100k~100MΩ时,最大显示值110000, LED显示
- 精度 (SLOW2) ± 0.007% rdg. ± 15dgt.(2k/20kΩ),在慢挡模式下: ± 0.011% rdg. ± 100dgt.(2~2kΩ)
- 测量电流 DC 1A~100nA, 在慢挡模式下: DC 10m~10μA
交流微电阻计 3560
- 测试种类从接触电阻至内阻和电池电压
- 快速响应约84ms(60Hz)
- 低功率电阻测量
- 电池测量
- 高分辨率(30mΩ量程下为1μΩ)
- 测量量程 30mΩ~3kΩ,6档量程,± 0.5%rdg, ± 8dgt.(所有量程)
- 精度 中速:在每个公差上+3dgt
- 快速:± 0.5%rdg. ± 8dgt.(30mΩ) ± 0.5%rdg. ± 6dgt.(其它量程)
- 但在快速模式下,所有量程内只显示4位数
- 测量电流 7.4mA(30mΩ量程)~1.5μA(3kΩ量程)
- 最大应用测量电压 直流60V (不允许交流输入)
- 采样速度 50Hz模式下:50次/s(快速模式) ~1.56次/S(慢速模式)
60Hz模式下:60次/秒(快速模式) ~1.88次/S(慢速模式) - 显示 最大显示值31000(电阻),50000(电压),荧光显示管
数字多用表 3237/3237-01
- 高速数字多用表(3.3ms/采样点),将时序控制响应时间减至最小,经济型
- 采样速率高达300次/s(3.3ms/样点)
- 比较器功能提供高速合格/不合格评估
配备外部输入输出用于时序控制 - 有用的存储/调用功能,加快测量过程
- 外部接口支持远程操作
- 直流电压(DC V) 200m/2/20/200/1000V(±0.025%rdg.±2dgt./2v)
- 交流电压(AC V) 2/20/200/750V(±0.2%rdg.±100dgt./45~3kHz)真有效值
- 电阻(Ω) 200/2k/20k/200k/2000k/20M/100MΩ(±0.05%rdg.±2dgt./2k~2MΩ)
- 电阻(LPΩ) 2k/20k/200k/2000kΩ(±0.05%rdg.±6dgt./2k~200kΩ)
数字多用表 3238/3238-01
- 采样速率高达300次/s(3.3ms/样点)
- 比较器功能提供高速合格/不合格评估
- 配备外部输入输出用于时序控制
- 有用的存储/调用功能,加快测量过程
- 外部接口支持远程操作
- AC/DC电流及频率测量功能
- 直流电压(DC V) 200m/2/20/200/1000V(±0.01%rdg.±2dgt./2V)
- 交流电压(AC V) 2/20/200/750V(±0.1%rdg.±100dgt./45~10kHz)真有效值
- 直流电流(DC A) 200m/2A(±0.1%rdg.±6dgt./200mA)
- 交流电流(AC A) 200m/2A(±0.3%rdg.±100dgt./200mA,45~3kHz)真有效值
- 频率 100/1k/10k/100k/300kHz(±0.015%rdg.±2dgt./10~300kHz)
- 电阻(Ω) 200/2k/20k/200k/2000k/20M/100MΩ(±0.02%rdg.±2dgt./2k~200kΩ)
- 电阻(LPΩ) 2k/20k/200k/2000kΩ(±0.02%rdg.±6dgt./2k~200kΩ)
数字多用表 3239/3239-01
- 采样速率高达300次/s(3.3ms/样点)
- 比较器功能提供高速合格/不合格评估
- 配备外部输入输出用于时序控制
- 有用的存储/调用功能,加快测量过程
- 外部接口支持远程操作
- AC/DC电流及频率测量功能
- 直流电压(DC V) 200m/2/20/200/1000V(±0.01%rdg.±2dgt./2V)
- 交流电压(AC V) 2/20/200/750V(±0.1%rdg.±100dgt./45~10kHz)真有效值
- 直流电流(DC A) 200m/2A(±0.1%rdg.±6dgt./200mA)
- 交流电流(AC A) 200m/2A(±0.3%rdg.±100dgt./200mA,45~3kHz)真有效值
- 频率 100/1k/10k/100k/300kHz(±0.015%rdg.±2dgt./10~300kHz)
- 电阻(Ω) 200/2k/20k/200k/2000k/20M/100MΩ(±0.02%rdg.±2dgt./2k~200kΩ)
- 电阻(LPΩ) 2k/20k/200k/2000kΩ(±0.02%rdg.±6dgt./2k~200kΩ)
电池测试仪 3555
- 立即测定电池劣化情况:小型二次电池用
- 通过对电池的内电阻和内电压的测量
- 以合格(pass),警告(warning)及不合格(fail)三段指示
- 使本系列产品能够立即得到电池状态的结果
- 电阻测量 300mΩ~30Ω,3档量程,最高分辨率100μΩ
- 电压测量 3或30V DC,2档量程,最高分辨率1mV
- 采样率 1.25次/s
- 比较器功能 设定:上、下限电阻值,下限电压值,输出:LED,蜂鸣器 电池测试仪 3561
电池测试仪 3561
- 测量锂电池电压和内阻
- 高精度:电阻±0.5% rdg. ±5dgt., 电压±0.01% rdg. ±3dgt.
- 高分辨率:电阻0.01mΩ(300mΩ量程); 电压0.1mV(20V量程)
- 高速10ms以内同时测量内阻和电压
- 最大可以统计30000个数据,有利于工程管理,品质管理
- 电阻测量量程 电阻: 310.00mΩ/3.1000Ω, 电压: ±19.9999V
- 精度 电阻:±0.5% rdg. ±5dgt.
- 电压:±0.01% rdg. ±3dgt.
电池测试仪 3554
- 评价蓄铅电池劣化的新标准
- UPS电池测试的理想选择
- 自动保持和记录
- 最高存储4800组电池数据
- 平均值功能
- 电阻量程 3.100m/31.00m/310.0m/3.100Ω
- 精度 ± 0.8%rdg. ± 6dgt.;3.000mΩ 单量程为:± 1.0%rdg. ± 8dgt.
- 电压量程 ± 6.000V/60.00V,精度 ±0.08%rdg. ±6 dgt.
LCR测试仪 3511-50
- 精巧,非常专业,5ms快速测量LCR
- 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
- 高精度: ± 0.08%
- 内置比较器
- 测量参数 │Z│,θ,C,L,D,Q,R
- 测量方法 测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC)
- 检测:电压,AC
- 测量频率 120Hz或1kHz
- 测量量程 │Z│,R:10mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ: -90.00~+90.00 ° C:0.940pF~999.99mF
L: 1.600μH~200.00kH,D:0.0001~1.9900
Q: 0.85~999.99 - 基本精度 │Z│: ± 0.08%rdg.,θ: ± 0.05 °
LCR测试仪 3522-50
- 低价及更好的功用和性能
- DC, 1 mHz~100 kHz更宽范围的测量频率
- 5ms高速测量的LCR计
- 宽频量程(DC或1mHz~100kHz)
- 测量14种参数(高分辨率和高精度)
- DC电阻测量
- 本机不提供测试冶具,订货时请选择一测试冶具选件。
- 测量参数 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
- 测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(AC/DC),或恒压10mV~5V(AC/DC). 检测: 电压,AC或DC
- 测量频率 DC或者1mHz~100kHz
- 测量量程 |Z|,|R|,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00°,C: 0.3200pF~1.0000F,
L: 16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q: 0.01~999.99, |Y|,G,B: 5.0000nS~99.999S
LCR测试仪 3532-50
- 搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪
- 测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整
- 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
- 测量参数 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
- 测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(42Hz~1MHz),50μ~20mA (1MHz~5MHz),或恒压10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz)
- 检测:电压,AC
- 测量频率 42Hz~5MHz
- 测量量程 │Z│,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S
LCR测试仪 3535
- 高速LCR仪,采样率可高至120MHz
- 100kHz~120MHz的宽频带
- 高速LCR测试(6ms/采样)
- 拆卸式前置放大器可选择
- 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
C测试仪 3501
- 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围
- 单按键操作
- 与一般测量功能不同,它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容
- 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容
- 测量参数 满量程
- 测量量程 300 pF ~ 10,000 μF
- 测量方式 DC充电,最大应用电压4V DC
C测试仪 3504/ 3504-10
- 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
- 最多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
- 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
- 高速测量:测量频率1kHz 时2ms, 120Hz 时10ms。
- 可选定测量电压
- 触发同步测量
- (不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)
- 测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tan)
- 测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF,D:0.00001~1.99000
如欲进一步了解日置元器件测试仪器,请电话咨询:021-51692896
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